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塵埃粒子計(jì)數(shù)器是用于測(cè)量潔凈環(huán)境中單位體積內(nèi)塵埃粒子數(shù)和粒徑分布的儀器?,F(xiàn)在使用塵埃粒子計(jì)數(shù)器的用戶越來(lái)越多,其廣泛應(yīng)用于醫(yī)藥、電子、精密機(jī)械、彩管制造、微生物等行業(yè)中,實(shí)現(xiàn)對(duì)各種潔凈等級(jí)的工作臺(tái)、凈化室、凈化車間的凈化效果、潔凈級(jí)別進(jìn)行監(jiān)控,以確保產(chǎn)品的質(zhì)量。塵埃粒子計(jì)數(shù)器的測(cè)量值有兩種表示方式:總計(jì)方式和分計(jì)方式??傆?jì)方式指測(cè)量值為大于等于該粒徑的粒子數(shù),分計(jì)方式指測(cè)量值為大于等于該粒徑同時(shí)又小于下一組鄰粒徑的粒子數(shù)。計(jì)數(shù)器在開始采樣前應(yīng)先自凈,以確保儀器內(nèi)部無(wú)殘留粒子。...
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光學(xué)測(cè)量是光電技術(shù)與機(jī)械測(cè)量結(jié)合的高科技。借用計(jì)算機(jī)技術(shù),可以實(shí)現(xiàn)快速,準(zhǔn)確的測(cè)量。光學(xué)測(cè)量主要應(yīng)用在現(xiàn)代工業(yè)檢測(cè),主要檢測(cè)產(chǎn)品的形位公差以及數(shù)值孔徑等是否合格。光學(xué)測(cè)量主要應(yīng)用在現(xiàn)代工業(yè)檢測(cè),主要檢測(cè)產(chǎn)品的形位公差以及數(shù)值孔徑等是否合格。光學(xué)測(cè)量?jī)x器分類光學(xué)測(cè)量的被測(cè)件進(jìn)行分類,主要分為3類:有源器件,無(wú)源器件,高速通信。有源器件主要有:調(diào)制器,發(fā)送器,接收機(jī),放大器,MUX/DEMUX,光電和電光轉(zhuǎn)換器,以及激光源。無(wú)源器件主要有:濾波器,光纖,光連接器,光分路器,光衰減...
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依據(jù)以下五方面要求選購(gòu)數(shù)顯卡尺1.使用環(huán)境普通數(shù)顯卡尺不宜在潮濕(相對(duì)濕度大于80%)、接觸水或?qū)щ姺蹓m等環(huán)境下使用。具有IP65、IP67級(jí)別防護(hù)功能的數(shù)顯卡尺,可在環(huán)境下使用。如果使用環(huán)境潮濕但很少接觸水,可選購(gòu)防護(hù)級(jí)別較低的IP54數(shù)顯卡尺,其售價(jià)略高于普通數(shù)顯卡尺。2.精度要求普通數(shù)顯卡尺分辨力0.01mm,高精度數(shù)顯卡尺分辨力0.005、0.001mm。按國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)(ISO/DIS13385—1996)測(cè)量的極限誤差如下:測(cè)量范圍mm極限誤差mm0-100&plusm...
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二次元影像測(cè)量?jī)x適用于以二坐標(biāo)測(cè)量為目的的一切應(yīng)用領(lǐng)域,機(jī)械、電子、儀表、五金、塑膠等行業(yè)廣泛使用。二次元影像測(cè)量?jī)x(又名影像式測(cè)繪儀)是建立在CCD數(shù)位影像的基礎(chǔ)上,依托于計(jì)算機(jī)屏幕測(cè)量技術(shù)和空間幾何運(yùn)算的強(qiáng)大軟件能力而產(chǎn)生的。計(jì)算機(jī)在安裝上控制與圖形測(cè)量軟件后,變成了具有軟件靈魂的測(cè)量大腦,是整個(gè)設(shè)備的主體。它能快速讀取光學(xué)尺的位移數(shù)值,通過建立在空間幾何基礎(chǔ)上的軟件模塊運(yùn)算,瞬間得出所要的結(jié)果并在屏幕上產(chǎn)生圖形,供操作員進(jìn)行圖影對(duì)照,從而能夠直觀地分辨測(cè)量結(jié)果可能存在的...
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測(cè)量投影儀是一種利用光學(xué)原理,將放置在工作臺(tái)上的被測(cè)件,通過具有準(zhǔn)確放大率的物鏡放大成像于投影屏上,檢測(cè)人員根據(jù)投影屏上被放大的工件圖像進(jìn)行各種測(cè)量工作的計(jì)量?jī)x器。投影儀是集光、機(jī)、電、算一體化的精密儀器,應(yīng)用領(lǐng)域非常廣泛。投影儀的結(jié)構(gòu)特征是:具有工件放大成像的投影屏和X、Y坐標(biāo)測(cè)量工作臺(tái)以及Z軸調(diào)焦機(jī)構(gòu)。它的測(cè)量對(duì)象包括:刀具、模具、沖壓件、注塑件、橡膠件以及電路板等。投影儀廣泛在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)得到應(yīng)用投影儀的測(cè)量方式有三種:1、在投影屏上瞄準(zhǔn)工件上的被測(cè)元素,從測(cè)量系統(tǒng)上讀出被...
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